聚焦失效分析，共促產學研協同——ICIE平臺失效分析服務開放日活動圓滿舉行

更新時間：2026-04-22 點擊次數：108

4月13日，國家集成電路產教融合創新平臺（ICIE）與國儀量子技術（合肥）股份有限公司聯合舉辦的“失效分析服務開放日"活動順利舉行。本次活動圍繞ICIE平臺功能、失效分析應用案例及設備實操技能培訓展開深入交流，吸引了眾多校內師生及校外行業同仁踴躍參與，現場氣氛熱烈。

活動由ICIE平臺涂小明博士主持。平臺副主任錢凌軒教授首先系統介紹了ICIE平臺的建設概況、科研能力及產教融合成果，幫助參會者深入了解平臺在集成電路領域的戰略布局與建設成效。

在專題報告環節，國儀量子上海實驗室負責人王鋒圍繞國儀量子失效分析儀器進行講解，重點介紹了聚焦離子束顯微鏡（FIB）、掃描電子顯微鏡（SEM）在失效分析中的核心應用，并分享了DB550、SEM5000X等國產高端電鏡的技術突破與實際案例，以及設備原理、參數解析及實操技巧。精彩報告引發熱烈互動，現場提問踴躍，交流氛圍濃厚。

隨后舉行了《國儀量子電鏡售后服務承諾書》頒布儀式。國儀量子電鏡客戶成功經理沈志鵬代表公司，向錢凌軒教授鄭重遞交承諾書，彰顯了國儀量子在售后服務保障方面的責任與擔當。

活動最后安排了抽獎環節和ICIE平臺實驗室參觀，參會者紛紛表示收獲頗豐。本次開放日通過主題報告、實操培訓、服務承諾發布及平臺參觀等豐富形式，有效促進了先進檢測技術與教學科研的深度融合，為集成電路領域產學研協同創新注入了新動能。

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